Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης: Διαφορά μεταξύ των αναθεωρήσεων
Περιεχόμενο που διαγράφηκε Περιεχόμενο που προστέθηκε
Esem0 (συζήτηση | συνεισφορές) |
Esem0 (συζήτηση | συνεισφορές) Χωρίς σύνοψη επεξεργασίας |
||
| Γραμμή 7: | Γραμμή 7: | ||
{{reflist|35em|refs= |
{{reflist|35em|refs= |
||
<ref name=r1>{{cite journal |
|||
<ref name=r1>{{cite journal|author=Ardenne M und Beischer D|year=1940|title=Untersuchung von Metalloxyd-rauchen mit dem Universal-Elektronenmikroskop|journal=Zeits. F. Elektrochem.|volume=46|pages=270–277|doi=10.1002/bbpc.19400460406}}</ref> |
|||
|last = von Ardenne |
|||
|first = Manfred |
|||
|year = 1939 |
|||
|title = Das Elektronen-Rastermikroskop. Theoretische Grundlagen |
|||
|journal = Zeitschrift für Physik |
|||
|volume = 109 |
|||
|issue = 9–10 |
|||
|pages = 553–572 |
|||
|language = German |
|||
|doi = 10.1007/BF01341584 |
|||
|bibcode = 1938ZPhy..109..553V }}</ref> |
|||
<ref name=r2>{{cite journal |
<ref name=r2>{{cite journal |
||
|last = von Ardenne |
|last = von Ardenne |
||
Έκδοση από την 09:49, 7 Αυγούστου 2012
Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΗΜΣ) είναι ένα από τα όργανα της ηλεκτρονικής μικροσκοπίας, με το οποίο μπορούμε να εξετάζουμε την επιφάνεια αντικειμένων με την χρήση ηλεκτρονικής δέσμης. Σε αντιστοιχία με τα μικροσκόπια που χρησιμοποιούν φως και κοινούς φακούς για την δημιουργία ειδώλου ενός αντικειμένου, στο ΗΜΣ χρησιμοποιούνται ηλεκτρόνια και ηλεκτρομαγνητικοί φακοί για την δημιουργία ειδώλου της επιφανείας ενός αντικειμένου στην οθόνη ηλεκτρονικού υπολογιστή ή μιας τηλεόρασης.
Ιστορικό
Δημιουργός του ΗΜΣ είναι ο Manfred von Ardenne λίγο πριν το Β' Παγκόσμιο Πόλεμο πρώτα έγραψε ένα θεωρητικό άρθρο[1] και αμέσως ακολούθησε η κατασκευή του οργάνου με τα πρώτα αποτελέσματα[2].
Αναφορές
- ↑ von Ardenne, Manfred (1939). «Das Elektronen-Rastermikroskop. Theoretische Grundlagen» (στα German). Zeitschrift für Physik 109 (9–10): 553–572. doi:. Bibcode: 1938ZPhy..109..553V.
- ↑ von Ardenne, Manfred (1938). «Das Elektronen-Rastermikroskop. Praktische Ausführung» (στα German). Zeitschrift für technische Physik 19: 407–416.