Συνεστιακή μικροσκοπία

Από τη Βικιπαίδεια, την ελεύθερη εγκυκλοπαίδεια
Μετάβαση σε: πλοήγηση, αναζήτηση
Αρχή της συνεστιακής μικροσκοπίας

Συνεστιακή μικροσκοπία είναι μια τεχνική οπτικής απεικόνισης που χρησιμοποιείται για την αύξηση της ευκρίνειας και της αντίθεσης του οπτικού μικροσκοπίου με την τοποθέτηση πολύ μικρού διαφράγματος στους οπτικούς άξονες του αντικειμενικού και του συγκεντρωτικού φακού για την εξάλειψη του φωτός από τα μη εστιασμένα σημεία του αντικειμένου. Το συνεστιακό μικροσκόπιο σαρώνει το αντικείμενο με κηλίδα του φωτός σχηματίζοντας πλήρη εικόνα. Επιτρέπει την ανακατασκευή της τρισδιάστατης δομής του αντικειμένου από τις εικόνες που λαμβάνονται. Αυτή η τεχνική έναι δημοφιλής στις επιστήμες της ζωής, στην εξέταση των ημιαγωγών και στην επιστήμη των υλικών.

Η αρχή της συνεστιακής απεικόνισης κατοχυρώθηκε με δίπλωμα ευρεσιτεχνίας το 1957 από τον Marvin Minsky με στόχο να ξεπεράσουν οι περιορισμοί της συμβατικής μικροσκοπίας φθορισμού.

Πηγές[Επεξεργασία | επεξεργασία κώδικα]

  • OΠΤΙΚΑ (ΦΩΤΟΝΙΚΑ) ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ. ΓΕΝΙΚΕΣ ΑΡΧΕΣ. Κωνσταντίνος Φασσέας, Καθηγητής Γ.Π.Α.*

Εξωτερικοί σύνδεσμοι[Επεξεργασία | επεξεργασία κώδικα]

Commons logo
Τα Wikimedia Commons έχουν πολυμέσα σχετικά με το θέμα
Στο λήμμα αυτό έχει ενσωματωθεί κείμενο από το λήμμα Confocal microscopy της Αγγλικής Βικιπαίδειας, η οποία διανέμεται υπό την GNU FDL και την CC-BY-SA 3.0. (ιστορικό/συντάκτες).